高功率X光繞射分析儀(Rigaku TTRAX 3)
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工綜118特性：
- X光繞射分析（材料相鑑定、結晶顆粒大小分析、結晶度、定量…）
- 薄膜低掠角掃描
- 殘留應力分析
- 極圖分析
- 高解析Rocking Curve分析
- 全反射分析
- 倒置晶格面掃描
- In-Plane分析
- 高溫X光繞射分析
- 小角散射分析
本系專區
材料系刊
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