200kV穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 T20)

200kV穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 T20)

技術員:

陳學人

連絡電話:

02-33661348

所在位置:

工綜126

特性:

可進行材料試樣微區影像分析,包含收集明視野像、暗視野像、電子繞射圖樣以及EDX微區定性/半定量成分分析。

操作規定:

除可與助教預約外,若取得G2使用執照者可以自行操作
(取得方式:擁有TEM 100CX使用執照者並擁有三次操作G2經驗者,皆可報考G2執照考試)