200kV穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 T20)
負責老師：
林招松技術員：
陳學人連絡電話：
02-33661348所在位置：
工綜126特性：
可進行材料試樣微區影像分析，包含收集明視野像、暗視野像、電子繞射圖樣以及EDX微區定性/半定量成分分析。
操作規定：
除可與助教預約外，若取得G2使用執照者可以自行操作
(取得方式:擁有TEM 100CX使用執照者並擁有三次操作G2經驗者，皆可報考G2執照考試)
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材料系刊
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