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300kV場發射槍穿透式電子顯微鏡附加能量散佈分析儀

300kV場發射槍穿透式電子顯微鏡附加能量散佈分析儀

負責老師：

楊哲人

技術員：

陳學人

連絡電話：

02-33661348

所在位置：

工綜124

特性：

英文名稱：Philips Tecnai F30 Field Emission Gun Transmission Micro-scope (FEG-TEM), EDAX Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS)

英文簡稱：FEG-TEM + EDS 

  1. 可進行材料試樣微區影像分析，包含收集高解析影像、明視野像、暗視野像、電子繞射圖樣以及EDX微區定性/半定量成分分析。
  2. 配有高角度環場暗視野像偵測器，可收集Z對比之微區影像，搭配EDX可以進行EDX Mapping以及EDX line-scan 。
  3. 本設備加裝有Gatan Image Filter ，能夠收集微區結構之電子能量損失能譜，進行成分分析，並透過能譜收集電子能量過濾影像，獲得微區成分Mapping影像。