200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F)

200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F)

技術員:

陳學人

連絡電話:

02-33661348

所在位置:

工綜B24

特性:

1. 高解析穿透式電子顯微鏡。 2. 具掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)明場與暗場影像成像功能。 3. 搭配STEM進行EDS成分分析。