200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F)
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工綜B24特性：
1. 高解析穿透式電子顯微鏡。 2. 具掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)明場與暗場影像成像功能。 3. 搭配STEM進行EDS成分分析。
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