主要設備

主 要 儀 器 設 備 

儀器名稱 廠牌型號 儀器放置位置 管理連絡人
100噸萬能試驗機 SHIMADZU UH-100A 舊數館102 吳福訓
30噸萬能試驗機 SHIMADZU UEH-30 舊數館102 吳福訓
10噸萬能試驗機 SHIMADZU AG-10TE 舊數館102 吳福訓
衝擊試驗機 TINIUS OLSEN Model 74 舊數館101 吳福訓
衝擊試驗機 TINIUS OLSEN Model 84 舊數館101 吳福訓
洛氏硬度機 MITUTOYO ARK-600 舊數館208 吳福訓
勃氏硬度機 IMAI B03 舊數館208 吳福訓
維克氏硬度機 AKASHI AVK-A 舊數館208 吳福訓
電子探測微分析儀(EPMA) JEOL JXA-8200 工綜館 122-4 高崇源
發射光譜分光分析儀(OES) Shimadzu GVM-1014S 工綜館 118 高崇源
高功率X光繞射分析儀(18kW XRD) Rigaku TTRAX 3 工綜館 118 高崇源
X光繞射分析儀(XRD) Philips 1830/Mac 工綜館 120 高崇源
小角度X光散射儀(SAXS) BRUKER AXS GmbH/NANOSTAR 工綜館 120 高崇源
場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEG-SEM) LEO 1530 工綜館 122-2 李苑慈
200kV Lab6 掃描穿透式電子顯微鏡(STEM) JEOL 2000EX 工綜館 122-3 陳學人
100kV 穿透式電子顯微鏡(TEM) JEOL 100CX 2 工綜館 122-2 陳學人
200kV Lab6 穿透式電子顯微鏡(TEM) FEI Tecnai G2 20 工綜館 126 陳學人
200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEG-TEM) FEI Tecnai G2 F20 工綜館 128 陳學人
300kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEG-TEM) FEI Tecnai G2 F30 工綜館 124 陳學人
聚焦離子束與電子束顯微系統(DB-FIB) FEI Helios 600i 工綜館 130 陳曉萱
場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEG-SEM) Nova SEM 450 工綜館 130 陳學人
掃描式電子顯微鏡(SEM) JEOL JSM6510 工綜館 130-1 李苑慈
熱分析儀 DSC DTA DMA TA Q200 Q600 Q800 工綜館 336 謝坤州
離子束減薄系統(PIPS) Gatan 695.B 工綜館 348 謝坤州

 

 

管理連絡人 連絡電話
吳福訓 02-33661358
高崇源 02-33665241
李苑慈 02-33661338
陳學人 02-33661348
謝坤州 02-33661333
陳曉萱 02-33661350

 

 

 

對外服務

服務項目                                主要設備

聯絡人

主持教授: 林新智 主任

技術人員: 

<a>吳福訓 先生
<b>張順章 先生
<c>高崇源 先生
<d>陳學人 先生
<e>陳曉萱 小姐

聯絡電話:

<a>(02)3366-1358
<b>(02)3366-1359
<c>(02)3366-5241
<d>(02)3366-1348
<e>(02)3366-1350

傳真電話: (02)2363-8217

試驗地點

台北市羅斯福路四段一號
台灣大學校總區舊數學館210室
台灣大學工學院綜合大樓122室


 

服務項目

服 務 項 目

一、TAF認證項目

  • 拉伸試驗
  • 彎曲試驗
  • 洛氏硬度試驗
  • 成分分析

二、金屬材料測試

  • 鋼筋試驗
  • 結構鋼材試驗
  • 預力鋼絞線試驗
  • 螺栓、螺帽、鑄鐵、鑄管、鍍鋅量試驗
  • 鋼鈑、焊接鋼鈑、焊接鋼管、焊材、金屬網等試驗
  • 不銹鋼鈑、不銹鋼管棒、焊接不銹鋼鈑等試驗
  • 其他金屬材料試驗
  • 輻射性

三、化學成分分析

  • 鋼鐵材料、不銹鋼、鋁合金、銅合金之成分分析。
  • 材料含碳量、含硫量、含氧量及含氮量分析。

四、電子顯微鏡

  • 顯微組織觀察(二次電子像、背向散射電子像、穿透電子明視野像、穿透電子暗視野像等)
  • 元素定性
  • 定量分析
  • 顯微結構分析
  • 線掃描(Line profile)
  • 面掃描(Mapping)  等