主要設備

• 
• 

會員評等：  / 1

差佳 

詳細內容

分類：對外服務

建立於 2013-11-12, 週二 16:26

最近更新於 2019-09-12, 週四 11:18

發佈於：2013-11-12, 週二 16:26

點擊數：19186

主 要 儀 器 設 備 

 

 

儀器名稱	廠牌型號	儀器放置位置	管理連絡人
100噸萬能試驗機	SHIMADZU UH-100A	舊數館 102	吳福訓
30噸萬能試驗機	SHIMADZU UEH-30	舊數館 102	吳福訓
10噸萬能試驗機	SHIMADZU AG-10TE	舊數館 102	吳福訓
衝擊試驗機	TINIUS OLSEN Model 74	舊數館 101	吳福訓
衝擊試驗機	TINIUS OLSEN Model 84	舊數館 101	吳福訓
洛氏硬度機	MITUTOYO ARK-600	舊數館 208	吳福訓
勃氏硬度機	IMAI B03	舊數館 208	吳福訓
維克氏硬度機	AKASHI AVK-A	舊數館 208	吳福訓
分光分析儀	ARL-3460	慶齡工業中心309	吳福訓
300kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEG-TEM)	FEI Tecnai G2 F30	工綜館 124	陳學人
200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEG-TEM)	FEI Tecnai G2 F20	工綜館 128	陳學人
200kV Lab6 穿透式電子顯微鏡(TEM)	FEI Tecnai G2 T20	工綜館 126	陳學人
200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F)	JEOL 2010F	工綜館 B24	謝坤州
100kV 穿透式電子顯微鏡(TEM)	JEOL 100CX 2	工綜館 122-3	陳學人
掃描式電子顯微鏡(SEM)	JEOL JSM6510	工綜館 130-1	李苑慈
場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEG-SEM)	NOVA NANO SEM 450	工綜館 130	陳學人
場發射槍掃描式電子顯微鏡(JeoL JSM-7800F Prime)	JeoL JSM-7800F Prime	工綜館 130-1	李苑慈
電子探測微分析儀(EPMA)	JEOL JXA-8200	工綜館 122-4	高崇源
聚焦離子束與電子束顯微系統(DB-FIB)	FEI Helios 600i	工綜館 130	陳曉萱
歐傑電子能譜儀(JEOL JAMP 9510F)	JEOL JAMP 9510F	工綜館 B36-1	謝坤州
高功率X光繞射分析儀(18kW XRD)	Rigaku TTRAX 3	工綜館 118	高崇源
發射光譜分光分析儀(OES)	Shimadzu GVM-1014S	工綜館 118	高崇源
小角度X光散射儀(SAXS)	BRUKER AXS GmbH/NANOSTAR	工綜館 120	高崇源
熱分析儀 DSC DTA DMA	TA Q200 Q600 Q800	工綜館 336	謝坤州
離子束減薄系統(PIPS)	Gatan 695.B	工綜館 B24	謝坤州

 

管理連絡人	連絡電話
吳福訓	02-33661358
高崇源	02-33665241
李苑慈	02-33661338
陳學人	02-33661348
謝坤州	02-33661333
陳曉萱	02-33661350

• 下一個 >