6/22(一)專題演講公告

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上層分類：系所公告

分類：演講

建立於 2020-06-17, 週三 09:31

最近更新於 2020-06-23, 週二 09:36

發佈於：2020-06-17, 週三 09:32

點擊數：2413

演講者：陳祺   博士

演講題目：Near Field Spectroscopic Imaging: from Hard to Soft Materials

出席學生：僅學號末一碼為奇數同學須出席(學號末一碼為偶數同學請至CEIBA及NTU COOL線上學習)

演講人：陳祺   博士

服務單位：中央研究院應用科學研究中心

演講題目：Near Field Spectroscopic Imaging: from Hard to Soft Materials

演講時間：109年6月22日(星期一)早上10點20分

演講地點：工綜館203國際演講廳

個人學歷：

美國加州大學爾灣分校 / 化學系 / 博士

國立臺灣大學 / 化學系 / 碩士

國立臺灣大學 / 化學系 / 學士

個人經歷：

中央研究院 / 應用科學研究中心 / 助研究員

RIKEN / Nanophotonics laboratory / 博士後研究員

演講摘要：

Scanning near field optical microscopy (SNOM) is a scanning probe technique that combines optics with atomic force microscopy (AFM) to achieve sub-diffraction limit optical resolution. We design and build a horizontal-type aperture based SNOM setup (a-SNOM) with superior mechanical stability toward high resolution and non-destructive topographic and optical imaging. We adopt the torsional resonance (TR) mode for the AFM operation to achieve a better force sensitivity and a higher spatial resolution even with the blunt a-SNOM tip. In this talk, we will first present simultaneous SNOM fluorescence and topographic imaging of transition metal dichalcogenides (TMD) and self-assembled P3HT nanowires with a lateral optical resolution of 60~80 nm. Finally, SNOM imaging of fluorescent dye-labeled lipid domains is successfully achieved without sample damage by our horizontal-type a-SNOM system.

出席學生：

僅學號末一碼為奇數同學須出席 (學號末一碼為偶數同學請至CEIBA及NTU COOL線上學習)