日立分析型場放射掃描式電子顯微鏡及Bruker背散射繞射系統(EBSD)材料解析及應用研討會

時間:106 年 6月 27日

地點:臺灣大學理學院思亮館國際會議廳

講師:

益弘儀器電顯部 應用中心 郭瀚介

布魯克德國EBSD產品經理 Dr. Daniel Goran

布魯克 應用部 王銳

參加對象:各表面分析實驗室、研發及製程等相關人員

報名方式:填寫報名表後傳真至(02)2754-0439 額滿為止

確認報名成功專線:(02)2755-2266 #310 Kelly

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