200kV場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 F20)

200kV場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 F20)

技術員:

陳學人

所在位置:

工綜128
200kV穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 T20)

200kV穿透式電子顯微鏡(FEI Tecnai G2 T20)

技術員:

陳學人

所在位置:

工綜126
100kV穿透式電子顯微鏡(JEOL 100CX 2)

100kV穿透式電子顯微鏡(JEOL 100CX 2)

技術員:

陳學人

所在位置:

工綜122-2
場發射槍掃描式電子顯微鏡(LEO 1530)

場發射槍掃描式電子顯微鏡(LEO 1530)

技術員:

李苑慈

所在位置:

工綜122-2
掃描式電子顯微鏡(JEOL JSM6510)

掃描式電子顯微鏡(JEOL JSM6510)

技術員:

李苑慈

所在位置:

工綜130-1
電子探測微分析儀(JEOL JXA-8200)

電子探測微分析儀(JEOL JXA-8200)

技術員:

高崇源

所在位置:

工綜122-4
高功率X光繞射分析儀(Rigaku TTRAX 3)

高功率X光繞射分析儀(Rigaku TTRAX 3)

技術員:

高崇源

所在位置:

工綜118
X光繞射分析儀(Philips 1830/Mac)

X光繞射分析儀(Philips 1830/Mac)

技術員:

高崇源

所在位置:

工綜120
發射光譜分光分析儀(Shimadzu GVM-1014S)

發射光譜分光分析儀(Shimadzu GVM-1014S)

技術員:

高崇源

所在位置:

工綜118
熱分析儀 DSC DTA DMA

熱分析儀 DSC DTA DMA

技術員:

謝坤州

所在位置:

工綜336
場發射槍掃描式電子顯微鏡-(NOVA NANO SEM 450)

場發射槍掃描式電子顯微鏡-(NOVA NANO SEM 450)

技術員:

陳學人

所在位置:

工綜130
小角度X光散射儀(BRUKER AXS GmbH NANOSTAR)

小角度X光散射儀(BRUKER AXS GmbH NANOSTAR)

技術員:

高崇源

所在位置:

工綜120
離子束減薄系統(PIPS)

離子束減薄系統(PIPS)

技術員:

謝坤州

所在位置:

工綜B24室
200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F)

200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F)

技術員:

謝坤州

所在位置:

工綜B24
場發射槍掃描式電子顯微鏡(JeoL JSM-7800F Prime)

場發射槍掃描式電子顯微鏡(JeoL JSM-7800F Prime)

技術員:

李苑慈

所在位置:

工綜130-1
歐傑電子能譜儀(JEOL JAMP 9510F)

歐傑電子能譜儀(JEOL JAMP 9510F)

技術員:

謝坤州

所在位置:

工綜B36-1