主要設備

 

儀器名稱 廠牌型號 儀器放置位置 管理連絡人
100噸萬能試驗機 SHIMADZU UH-100A 舊數館 102 吳福訓
30噸萬能試驗機 SHIMADZU UEH-30 舊數館 102 吳福訓
10噸萬能試驗機 SHIMADZU AG-10TE 舊數館 102 吳福訓
衝擊試驗機 TINIUS OLSEN Model 74 舊數館 101 吳福訓
衝擊試驗機 TINIUS OLSEN Model 84 舊數館 101 吳福訓
洛氏硬度機 MITUTOYO ARK-600 舊數館 208 吳福訓
勃氏硬度機 IMAI B03 舊數館 208 吳福訓
維克氏硬度機 AKASHI AVK-A 舊數館 208 吳福訓
分光分析儀 ARL-3460 慶齡工業中心309 吳福訓
300kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEG-TEM) FEI Tecnai G2 F30 工綜館 124 陳學人
200kV 場發射槍穿透式電子顯微鏡(FEG-TEM) FEI Tecnai G2 F20 工綜館 128 陳學人
200kV Lab6 穿透式電子顯微鏡(TEM) FEI Tecnai G2 T20 工綜館 126 陳學人
200kV場發射鎗穿透式電子顯微鏡(JEOL 2010F) JEOL 2010F 工綜館 B24 謝坤州
100kV 穿透式電子顯微鏡(TEM) JEOL 100CX 2 工綜館 122-3 陳學人
掃描式電子顯微鏡(SEM) JEOL JSM6510 工綜館 130-1 李苑慈
場發射槍掃描式電子顯微鏡(FEG-SEM) NOVA NANO SEM 450 工綜館 130 陳學人
場發射槍掃描式電子顯微鏡(JeoL JSM-7800F Prime) JeoL JSM-7800F Prime 工綜館 130-1 李苑慈
電子探測微分析儀(EPMA) JEOL JXA-8200 工綜館 122-4 高崇源
聚焦離子束與電子束顯微系統(DB-FIB) FEI Helios 600i 工綜館 130 陳曉萱
歐傑電子能譜儀(JEOL JAMP 9510F) JEOL JAMP 9510F 工綜館 B36-1 謝坤州
高功率X光繞射分析儀(18kW XRD) Rigaku TTRAX 3 工綜館 118 高崇源
發射光譜分光分析儀(OES) Shimadzu GVM-1014S 工綜館 118 高崇源
小角度X光散射儀(SAXS) BRUKER AXS GmbH/NANOSTAR 工綜館 120 高崇源
熱分析儀 DSC DTA DMA TA Q200 Q600 Q800 工綜館 336 謝坤州
離子束減薄系統(PIPS) Gatan 695.B 工綜館 B24 謝坤州

 

管理連絡人 連絡電話
吳福訓 02-33661358
高崇源 02-33665241
李苑慈 02-33661338
陳學人 02-33661348
謝坤州 02-33661333
陳曉萱 02-33661350