日立分析型場放射掃描式電子顯微鏡及Bruker背散射繞射系統(EBSD)材料解析及應用研討會

• 

會員評等：  / 0

詳細內容

上層分類：系所公告

分類：系務

建立於 2018-05-31, 週四 14:57

最近更新於 2018-05-31, 週四 15:46

發佈於：2018-05-31, 週四 15:02

點擊數：3668

時間：106 年 6月 27日

地點：臺灣大學理學院思亮館國際會議廳

講師：

益弘儀器電顯部 應用中心 郭瀚介

布魯克德國EBSD產品經理 Dr. Daniel Goran

布魯克 應用部 王銳

參加對象：各表面分析實驗室、研發及製程等相關人員

報名方式：填寫報名表後傳真至(02)2754-0439 額滿為止

確認報名成功專線：(02)2755-2266 #310 Kelly

研討會報名表格請參考附件檔並下載利用